연구

특허

논문 특허 연구과제
특허 목록
2016
위상 조절을 통한 엑스선 회절 현미경 장치 및 엑스선 회절 방법
출원국
한국
등록번호
10-1613884
2016
위상 조절을 통한 엑스선 회절 현미경 장치 및 엑스선 회절 방법
출원국
한국
등록번호
10-1613884
2016
위상 조절을 통한 엑스선 회절 현미경 장치 및 엑스선 회절 방법
출원국
한국
등록번호
10-1613884
2016
위상 조절을 통한 엑스선 회절 현미경 장치 및 엑스선 회절 방법
출원국
한국
등록번호
10-1613884
2016
위상 조절을 통한 엑스선 회절 현미경 장치 및 엑스선 회절 방법
출원국
한국
등록번호
10-1613884
2014
레이저 유도 이온 가속용 박막 부재 제조방법 및 이를 이용한 박막 표적 및 그 제조방법
출원국
미국
등록번호
US 8,907,299 B2
2014
레이저 유도 이온 가속용 박막 부재 제조방법 및 이를 이용한 박막 표적 및 그 제조방법
출원국
미국
등록번호
US 8,907,299 B2
2014
레이저 유도 이온 가속용 박막 부재 제조방법 및 이를 이용한 박막 표적 및 그 제조방법
출원국
미국
등록번호
US 8,907,299 B2
2014
레이저 유도 이온 가속용 박막 부재 제조방법 및 이를 이용한 박막 표적 및 그 제조방법
출원국
미국
등록번호
US 8,907,299 B2
2014
레이저 유도 이온 가속용 박막 부재 제조방법 및 이를 이용한 박막 표적 및 그 제조방법
출원국
미국
등록번호
US 8,907,299 B2
2014
레이저 유도 이온 가속용 박막 부재 제조방법 및 이를 이용한 박막 표적 및 그 제조방법
출원국
미국
등록번호
US 8,907,299 B2
2013
레이저 유도 이온 가속용 박막 부재 제조방법 및 이를 이용한 박막 표적 및 그 제조방법
출원국
한국
등록번호
10-1263327
2013
복합 이온분석기
출원국
한국
등록번호
10-1239870
2013
레이저 유도 이온 가속용 박막 부재 제조방법 및 이를 이용한 박막 표적 및 그 제조방법
출원국
한국
등록번호
10-1263327
2013
복합 이온분석기
출원국
한국
등록번호
10-1239870

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